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多年專注無損、理化、計量檢測設(shè)備
針對性定制設(shè)備滿足各種需求,打造高新技術(shù)檢測設(shè)備新時代
4006186039
1.TA610測量平臺
·齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。
·花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
·花崗巖平臺大小尺寸:
·垂直升降高度:
·垂直升降微調(diào)量:
2.TA620測量平臺
·絲桿升降,平臺上設(shè)置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度。
·花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
·花崗巖平臺大小尺寸:
·垂直升降高度:300±
·升降回程誤差:≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈
3.TA630微調(diào)平臺
4.TA650測量平臺(TR300專用)
·垂直方向上的升降高度:300±
·垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度:±45°
·回程誤差:不大于手輪的1/6圈
·平臺的平面度:00級
·平臺尺寸:600 X 420 X
·總高度:
·X—Y平面轉(zhuǎn)角,俯仰角。
·調(diào)整范圍:X向 ±
·旋轉(zhuǎn)角度:粗調(diào) 360 微調(diào)±5 俯仰角度 0~5
5.TA631微調(diào)平臺:
·X—Y平面轉(zhuǎn)角。
·調(diào)整范圍:X向 ±
·旋轉(zhuǎn)角度:粗調(diào) 360 微調(diào)±5
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